1. 镀层厚度:测量范围0.1-50μm,精度±0.05μm
2. 铜纯度:分析Cu含量≥99.95%,杂质元素总量≤500ppm
3. 结合力强度:附着力测试≥15MPa
4. 表面粗糙度:Ra值控制在0.05-1.6μm区间
5. 晶粒尺寸:通过EBSD分析晶粒平均直径≤200nm
1. 印刷电路板(PCB)化学镀铜层
2. 半导体封装基板溅射铜膜
3. 装饰性镀铜制品(卫浴五金/工艺品)
4. 电子连接器电镀铜镍复合层
5. 金属复合材料真空沉积铜涂层
1. ASTM B748-90(2021):X射线荧光法测厚
2. ISO 3497:2000:辉光放电光谱元素分析
3. GB/T 6462-2005:划痕法结合力测试
4. ISO 4287:1997:轮廓仪表面粗糙度测定
5. GB/T 23414-2009:扫描电镜微观结构表征
1. Thermo Fisher Niton XL5 XRF光谱仪:无损厚度与成分分析
2. ZEISS Sigma 500场发射扫描电镜:微观形貌与能谱联用
3. Bruker D8 ADVANCE X射线衍射仪:晶体结构解析
4. Mitutoyo Surftest SJ-410轮廓仪:纳米级粗糙度测量
5. Gamry Interface 1010E电化学工作站:镀层孔隙率测试
6. Instron 5967万能材料试验机:界面结合强度测试
7. Oxford Instruments Aztec EDS系统:元素面分布分析
8. Keyence VHX-7000数码显微镜:宏观缺陷观测
9. Malvern Panalytical Empyrean XRD:织构与残余应力分析
10. Agilent 7900 ICP-MS:痕量杂质元素检测
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
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注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。
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1、工业问题诊断:包括失效分析、科学诊断、数据验证等,可以快速检测出产品问题,尽快止损;
2、其他鉴定服务:协助相关部门证据链补充、证物材料补充、质量检测、样品分析;
4、研发使用:试验经验丰富,试验设备多,为科研工作提供数据支持;
3、高校论文:提供研究性实验数据、分析服务,给论文提供科学依据;
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2、双方签订委托书,我方接收样品;
3、进行细节沟通,我方进行试验测试;
4、试验测试完成,出具检测测试报告;
5、委托完成,我方提供售后服务。