玻璃半导体检测

检测项目

1.电导率测试：测量范围110⁻~110S/cm，精度2%
2.透光率分析：波长范围400-800nm，分辨率0.1%
3.热膨胀系数测定：温度范围-50~500℃，精度0.0510⁻⁶/K
4.表面粗糙度检测：Ra值测量范围0.001-10μm
5.介电常数测试：频率1kHz-1MHz，误差≤3%

检测范围

1.非晶硅薄膜半导体材料
2.ITO(氧化铟锡)导电玻璃基板
3.硫系玻璃半导体(如As₂S₃)
4.过渡金属氧化物玻璃半导体
5.柔性透明导电薄膜复合材料

检测方法

1.ASTMF1529-20：四探针法测定薄层电阻
2.ISO13468-1:2019：双光束法透光率测试
3.GB/T16535-2018：激光干涉法热膨胀系数测定
4.ISO4287:1997：触针式表面粗糙度测量
5.GB/T1409-2006：平行板电容法介电性能测试

检测设备

1.LorestaGPMCP-T700四探针电阻测试仪：薄层电阻测量精度0.5%
2.ShimadzuUV-3600iPlus分光光度计：支持300-2500nm光谱分析
3.NetzschDIL402ExpedisClassic热膨胀仪：最高升温速率50K/min
4.BrukerDektakXT触针轮廓仪：垂直分辨率0.01nm
5.AgilentE4980ALCR表：频率范围20Hz-2MHz
6.HitachiSU8220场发射扫描电镜：分辨率0.8nm@15kV
7.MalvernZetasizerNanoZSP动态光散射仪：粒径测量范围0.3nm-10μm
8.PerkinElmerSTA8000同步热分析仪：TGA/DSC同步测量
9.OlympusLEXTOLS5000激光共聚焦显微镜：XYZ轴分辨率0.12μm/0.01μm
10.KeysightB1500A半导体参数分析仪：最小电流分辨率0.1fA

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

以上是关于玻璃半导体检测相关介绍，如果您还有其他疑问，可以咨询在线工程师提交您的需求，为您提供一对一解答。

注意：因业务调整，暂不接受个人委托测试，望谅解（高校、研究所等性质的个人除外）。

服务优势

1、拥有完善的检测服务体系，科学、严谨、认证。

2、我院对已出过的报告负责。

3、提供编写MSDS报告、TDS报告服务。

4、检测服务领域广，可参考标准多（国标、企标、通标、工标、国际标准等）。

5、周期短，费用低，方案全。

6、支持定制化试验方案，数据更加科学准确。

7、全国上门取样/现场见证试验。

8、资质全，团队强，后期服务体系完善

报告作用

1、工业问题诊断：包括失效分析、科学诊断、数据验证等，可以快速检测出产品问题，尽快止损；

2、其他鉴定服务：协助相关部门证据链补充、证物材料补充、质量检测、样品分析；

4、研发使用：试验经验丰富，试验设备多，为科研工作提供数据支持；

3、高校论文：提供研究性实验数据、分析服务，给论文提供科学依据；

5、投标：检测周期短，准确性高，出具的第三方检测报告合法合规；

7、控制材料质量，进行产品内控，降低成本、风险。

试验流程

1、与工程师沟通，确定具体的试验方案，我方报价；

2、双方签订委托书，我方接收样品；

3、进行细节沟通，我方进行试验测试；

4、试验测试完成，出具检测测试报告；

5、委托完成，我方提供售后服务。

检测仪器(部分)

合作客户(部分)

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