1.线宽偏差:测量实际线宽与设计值的差异范围(0.1μm~5μm)
2.边缘粗糙度:量化线条边缘波动幅度(Ra0.02-0.5μm)
3.线宽均匀性:评估同一平面内线宽变化率(≤3%)
4.侧壁角度:检测线条截面倾斜角度(85-95)
5.临界尺寸一致性:监控批量产品线宽标准差(σ≤0.15μm)
1.半导体晶圆:光刻线路/晶体管栅极结构
2.PCB基板:高频电路/微带传输线
3.光学掩膜版:光栅结构/衍射元件
4.金属薄膜器件:MEMS传感器/薄膜电阻
5.柔性电子器件:OLED阳极线路/纳米银线电路
1.ASTMF533-15:半导体器件线宽扫描电镜测量规范
2.ISO14648-2:微图形尺寸光学显微测量标准
3.GB/T16594-2008:微米级长度显微测量方法
4.GB/T3505-2009:表面粗糙度参数计算标准
5.ISO14978:2018:几何量测量设备通用技术要求
1.KLA-TencorATL系列:3D激光共聚焦显微镜(0.8nm重复精度)
2.HitachiCG4000扫描电镜:5kV低电压模式纳米级成像
3.OlympusOLS5000激光显微系统:408nm波长光学干涉测量
4.BrukerContourGT-X3白光干涉仪:0.1垂直分辨率
5.NikonMM-400测量显微镜:双远心物镜自动对焦系统
6.ZygoNewView9000相移干涉仪:20物镜0.13μm横向分辨率
7.KeyenceVHX-7000数字显微镜:4KCMOS多焦距合成成像
8.LeicaDCM8共聚焦显微镜:405nm激光光源三维重构
9.VeecoNT9100光学轮廓仪:12mm12mm大视场扫描
10.CarlZeissAxioCSM700:电动载物台自动多点测量系统
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
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注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。
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1、工业问题诊断:包括失效分析、科学诊断、数据验证等,可以快速检测出产品问题,尽快止损;
2、其他鉴定服务:协助相关部门证据链补充、证物材料补充、质量检测、样品分析;
4、研发使用:试验经验丰富,试验设备多,为科研工作提供数据支持;
3、高校论文:提供研究性实验数据、分析服务,给论文提供科学依据;
5、投标:检测周期短,准确性高,出具的第三方检测报告合法合规;
7、控制材料质量,进行产品内控,降低成本、风险。
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2、双方签订委托书,我方接收样品;
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