环状衍射花样检测

检测项目

1.晶面间距测量：精度0.001nm(0.1-5nm范围)
2.衍射角分辨率：0.01(2θ=10-150)
3.半高宽(FWHM)分析：0.01-5测量范围
4.环对称性偏差：≤1.5%(360径向分布)
5.强度分布均匀性：RSD≤3%(8方位角采样)

检测范围

1.半导体单晶材料：硅/锗/砷化镓晶圆(Φ100-300mm)
2.金属多晶合金：铝合金/钛合金/高温合金(厚度0.1-10mm)
3.纳米粉末材料：粒径10-500nm金属/氧化物粉末
4.高分子薄膜材料：厚度50nm-200μm聚合物薄膜
5.陶瓷复合材料：Al₂O₃/SiC/ZrO₂基烧结体(Φ5-50mm)

检测方法

1.X射线衍射法：ASTME2627/ISO22278/GB/T23413
2.电子背散射衍射(EBSD)：ASTME2629/ISO24173
3.选区电子衍射(SAED)：GB/T28871/IEC62629
4.同步辐射衍射：ISO21466/GB/T38976
5.中子衍射法：ASTME3298/GB/T38783

检测设备

1.RigakuSmartLabX射线衍射仪：9kW旋转阳极光源，HyPix-3000探测器
2.FEIQuanta650FEGSEM：配备EDAXHikariProEBSD系统
3.JEOLJEM-ARM300FTEM：原子分辨率冷场发射电镜(STEM模式)
4.BrukerD8ADVANCEXRD：Vantec-500二维探测器(30fps采集速率)
5.MalvernPanalyticalEmpyreanXRD：PIXcel3D探测器(255255阵列)
6.TESCANMIRALMSSEM：SymmetryS2EBSD探测器(16001200分辨率)
7.ShimadzuXRD-7000：θ/θ测角仪(最小步进0.0001)
8.HitachiHF5000TEM：ColdFEG电子源(信息极限0.08nm)
9.ZeissSigma300SEM：GeminiII镜筒(0.8nm@15kV分辨率)
10.PANalyticalX'Pert3MRDXL：五轴样品台(Ψ旋转90)

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

以上是关于环状衍射花样检测相关介绍，如果您还有其他疑问，可以咨询在线工程师提交您的需求，为您提供一对一解答。

注意：因业务调整，暂不接受个人委托测试，望谅解（高校、研究所等性质的个人除外）。

服务优势

1、拥有完善的检测服务体系，科学、严谨、认证。

2、我院对已出过的报告负责。

3、提供编写MSDS报告、TDS报告服务。

4、检测服务领域广，可参考标准多（国标、企标、通标、工标、国际标准等）。

5、周期短，费用低，方案全。

6、支持定制化试验方案，数据更加科学准确。

7、全国上门取样/现场见证试验。

8、资质全，团队强，后期服务体系完善

报告作用

1、工业问题诊断：包括失效分析、科学诊断、数据验证等，可以快速检测出产品问题，尽快止损；

2、其他鉴定服务：协助相关部门证据链补充、证物材料补充、质量检测、样品分析；

4、研发使用：试验经验丰富，试验设备多，为科研工作提供数据支持；

3、高校论文：提供研究性实验数据、分析服务，给论文提供科学依据；

5、投标：检测周期短，准确性高，出具的第三方检测报告合法合规；

7、控制材料质量，进行产品内控，降低成本、风险。

试验流程

1、与工程师沟通，确定具体的试验方案，我方报价；

2、双方签订委托书，我方接收样品；

3、进行细节沟通，我方进行试验测试；

4、试验测试完成，出具检测测试报告；

5、委托完成，我方提供售后服务。

检测仪器(部分)

合作客户(部分)

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