1.晶格常数偏差率:测量Δa/a0值(a0为基体晶格常数),精度0.02%
2.界面错配度分析:计算δ=(a2-a1)/a1100%,分辨率达0.1nm
3.取向差角测定:采用EBSD技术测量θ角偏差(0.01~15)
4.应变场分布:通过几何相位分析获取εxx,εyy分量(5%量程)
5.临界形核半径:计算rc=2γ/(ΔGv)(γ为界面能密度)
1.高温合金单晶叶片(CMSX-4/ReneN5系列)
2.半导体异质结材料(GaN/SiC/Al2O3)
3.纳米多层涂层(TiN/AlTiN周期结构)
4.金属基复合材料(SiCp/Al体系)
5.形状记忆合金(NiTi/Cu基复合材料)
1.ASTME112-13:晶粒度测定与取向分析标准
2.ISO24173:2009:电子背散射衍射(EBSD)测试规范
3.GB/T13298-2015:金属显微组织检验方法
4.ISO16700:2016:扫描电镜操作规范
5.GB/T3488.2-2018:硬质合金微观结构表征
1.FEITalosF200X场发射透射电镜:配备SuperXEDS探测器,点分辨率0.16nm
2.BrukerD8DiscoverX射线衍射仪:Cu靶Kα辐射(λ=0.15406nm),测角仪精度0.0001
3.OxfordInstrumentsSymmetryEBSD系统:Hough分辨率≥70,采集速度3000pps
4.JEOLJSM-7900F场发射扫描电镜:二次电子分辨率1.0nm@15kV
5.GatanK3-IS直接电子探测器:动态范围24bit,读取速度40fps@4k4k
6.ZEISSGeminiSEM500:束流稳定性≤0.4%/h@1nA
7.ThermoFisherScios2DualBeam:FIB加工精度3nm@30kV
8.MalvernPanalyticalEmpyreanXRD:配置PIXcel3D探测器,2θ范围-10~168
9.HORIBALabRAMHREvolution拉曼光谱仪:空间分辨率≤0.5μm@532nm
10.ShimadzuAIM-9000红外显微镜:MCT检测器响应范围600-4000cm-1
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
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1、工业问题诊断:包括失效分析、科学诊断、数据验证等,可以快速检测出产品问题,尽快止损;
2、其他鉴定服务:协助相关部门证据链补充、证物材料补充、质量检测、样品分析;
4、研发使用:试验经验丰富,试验设备多,为科研工作提供数据支持;
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2、双方签订委托书,我方接收样品;
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