1.晶格常数测定:测量单胞三维边长(a,b,c)及夹角(α,β,γ),精度达0.001
2.晶面间距分析:通过布拉格方程计算d值偏差度(Δd/d≤0.1%)
3.晶体取向测定:欧拉角定位误差<0.5
4.晶格畸变检测:应变场分辨率达10⁻⁴量级
5.晶粒尺寸统计:纳米级(10-100nm)至微米级(1-500μm)粒径分布
1.金属及合金材料:包括铝合金、钛合金、高温合金等
2.半导体单晶材料:硅(Si)、砷化镓(GaAs)、碳化硅(SiC)等
3.陶瓷材料:氧化铝(Al₂O₃)、氮化硅(Si₃N₄)等结构陶瓷
4.高分子晶体材料:聚乙烯(PE)、聚丙烯(PP)等半结晶聚合物
5.纳米粉末材料:金属氧化物、量子点等纳米晶体
1.X射线衍射法:依据ISO14705:2016进行全谱拟合分析
2.电子背散射衍射:执行ASTME2627-13标准测试流程
3.透射电子显微术:参照GB/T23414-2009开展选区电子衍射
4.中子衍射分析:采用ISO21484:2017核反应堆中子源方案
5.同步辐射表征:按GB/T36075.3-2018实施高能X射线探测
1.RigakuSmartLabX射线衍射仪:配备9kW旋转阳极靶,支持θ-2θ联动扫描
2.TESCANMIRA3扫描电镜:集成OxfordSymmetryEBSD探测器
3.JEOLJEM-ARM300F透射电镜:球差校正系统实现0.08nm分辨率
4.BrukerD8DISCOVERX射线系统:配置VANTEC-500二维探测器
5.MalvernPanalyticalEmpyreanXRD平台:具备实时原位加热模块
6.ZeissSigma500场发射SEM:搭配EDAXVelocitySuperEDS系统
7.ShimadzuXRD-7000衍射仪:配备高温附件(最高1600℃)
8.OxfordInstrumentsAztecHKL软件平台:支持实时EBSD数据解析
9.PANalyticalX'Pert3MRDXL系统:配置四轴测角仪和高分辨率探测器
10.ThermoFisherScios2DualBeamFIB-SEM:集成三维晶体重构功能
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
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注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。
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1、工业问题诊断:包括失效分析、科学诊断、数据验证等,可以快速检测出产品问题,尽快止损;
2、其他鉴定服务:协助相关部门证据链补充、证物材料补充、质量检测、样品分析;
4、研发使用:试验经验丰富,试验设备多,为科研工作提供数据支持;
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2、双方签订委托书,我方接收样品;
3、进行细节沟通,我方进行试验测试;
4、试验测试完成,出具检测测试报告;
5、委托完成,我方提供售后服务。