次级晶粒检测

关键字:次级晶粒测试方法,次级晶粒项目报价,次级晶粒测试标准
所在栏目:其他检测
发布时间:2025-05-28
信息来源:北检院
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检测项目

1.平均晶粒尺寸:测量范围0.5-200μm,分辨率0.02μm
2.晶粒尺寸分布:统计区间跨度D10-D90值
3.取向偏差角:测量精度0.1,范围0-15
4.晶界曲率半径:分析范围10nm-5μm
5.孪晶界面密度:单位面积界面长度测量(μm/μm)

检测范围

1.金属合金:包括铝合金(AA2000/7000系列)、钛合金(Ti-6Al-4V)等
2.陶瓷材料:氧化锆(3Y-TZP)、碳化硅(SiC)结构陶瓷
3.半导体晶体:单晶硅(CZ-Si)、砷化镓(GaAs)基片
4.高温合金:镍基超合金(Inconel718)、钴基合金
5.增材制造件:选区激光熔化(SLM)成型金属部件

检测方法

1.ASTME112-13:金属材料平均晶粒度测定标准
2.ISO13383-1:2012:精细陶瓷显微结构表征方法
3.GB/T6394-2017:金属平均晶粒度测定法
4.ASTME2627-13:电子背散射衍射(EBSD)分析规程
5.GB/T3488.1-2014:硬质合金显微组织的金相测定

检测设备

1.扫描电子显微镜:JEOLJSM-IT800(配备EBSD探测器)
2.X射线衍射仪:BrukerD8ADVANCE(织构分析模块)
3.金相图像分析系统:OlympusStreamImageAnalysis2.4
4.聚焦离子束系统:ThermoFisherHeliosG4UX
5.原子力显微镜:BrukerDimensionIconPT
6.激光共聚焦显微镜:KeyenceVK-X3000系列
7.透射电子显微镜:FEITalosF200X
8.电子探针显微分析仪:ShimadzuEPMA-8050G
9.X射线三维显微镜:ZEISSXradia620Versa
10.纳米压痕仪:AgilentG200

北检(北京)检测技术研究院【简称:北检院】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

以上是关于次级晶粒检测相关介绍,如果您还有其他疑问,可以咨询在线工程师提交您的需求,为您提供一对一解答。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

服务优势

1、拥有完善的检测服务体系,科学、严谨、认证。

2、我院对已出过的报告负责。

3、提供编写MSDS报告、TDS报告服务。

4、检测服务领域广,可参考标准多(国标、企标、通标、工标、国际标准等)。

5、周期短,费用低,方案全。

6、支持定制化试验方案,数据更加科学准确。

7、全国上门取样/现场见证试验。

8、资质全,团队强,后期服务体系完善

报告作用

1、工业问题诊断:包括失效分析、科学诊断、数据验证等,可以快速检测出产品问题,尽快止损;

2、其他鉴定服务:协助相关部门证据链补充、证物材料补充、质量检测、样品分析;

4、研发使用:试验经验丰富,试验设备多,为科研工作提供数据支持;

3、高校论文:提供研究性实验数据、分析服务,给论文提供科学依据;

5、投标:检测周期短,准确性高,出具的第三方检测报告合法合规;

7、控制材料质量,进行产品内控,降低成本、风险。

试验流程

1、与工程师沟通,确定具体的试验方案,我方报价;

2、双方签订委托书,我方接收样品;

3、进行细节沟通,我方进行试验测试;

4、试验测试完成,出具检测测试报告;

5、委托完成,我方提供售后服务。

检测流程

检测仪器(部分)

实验仪器

实验仪器-手机

合作客户(部分)

合作客户

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