电子显微镜观察检测

检测项目

表面形貌分析(分辨率0.1nm)
晶格结构表征(放大倍数50万倍)
元素成分分析(EDS探测限0.1wt%)
相组成鉴定(选区衍射精度0.02)
薄膜厚度测量(误差范围2nm)
颗粒尺寸统计(粒径分布CV值＜5%)
三维重构分析(层析分辨率5nm)
缺陷定位检测(定位精度10nm)
界面结合状态评估(倾转角度70)
污染源溯源分析(特征X射线能量分辨率130eV)

检测范围

金属及合金材料
半导体晶圆与器件
纳米粉末与复合材料
高分子聚合物薄膜
陶瓷及玻璃基材
生物细胞与组织切片
锂电池电极材料
光学镀膜涂层
MEMS微机电系统
地质矿物样本

检测方法

ASTME1508-12扫描电镜能谱定量分析规程
ISO16700:2016扫描电镜校准规范
GB/T27788-2020微束分析标准样品通用规范
ASTME2809-22透射电镜选区衍射标定方法
GB/T36401-2018表面化学分析X射线能谱仪通则
ISO21363:2020纳米颗粒尺寸分布测定方法
GB/T35099-2018微束分析扫描电镜图像分辨力测量方法
ASTMF1877-22半导体器件失效分析标准指南

检测设备

场发射扫描电镜FEINovaNanoSEM450(分辨率0.8nm@15kV)
透射电子显微镜JEOLJEM-2100F(点分辨率0.19nm)
双束聚焦离子束系统ThermoScientificHeliosG4UX(加工精度5nm)
三维原子探针LEAP5000XR(质量分辨率m/Δm＞2000)
环境扫描电镜HitachiSU3900(压力范围1-2700Pa)
冷冻透射电镜TalosF200CG2(低温样品台-180℃)
电子背散射衍射仪OxfordSymmetryS2(角分辨率0.5)
X射线能谱仪BrukerXFlash630H(探测面积60mm)

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

以上是关于电子显微镜观察检测相关介绍，如果您还有其他疑问，可以咨询在线工程师提交您的需求，为您提供一对一解答。

注意：因业务调整，暂不接受个人委托测试，望谅解（高校、研究所等性质的个人除外）。

服务优势

1、拥有完善的检测服务体系，科学、严谨、认证。

2、我院对已出过的报告负责。

3、提供编写MSDS报告、TDS报告服务。

4、检测服务领域广，可参考标准多（国标、企标、通标、工标、国际标准等）。

5、周期短，费用低，方案全。

6、支持定制化试验方案，数据更加科学准确。

7、全国上门取样/现场见证试验。

8、资质全，团队强，后期服务体系完善

报告作用

1、工业问题诊断：包括失效分析、科学诊断、数据验证等，可以快速检测出产品问题，尽快止损；

2、其他鉴定服务：协助相关部门证据链补充、证物材料补充、质量检测、样品分析；

4、研发使用：试验经验丰富，试验设备多，为科研工作提供数据支持；

3、高校论文：提供研究性实验数据、分析服务，给论文提供科学依据；

5、投标：检测周期短，准确性高，出具的第三方检测报告合法合规；

7、控制材料质量，进行产品内控，降低成本、风险。

试验流程

1、与工程师沟通，确定具体的试验方案，我方报价；

2、双方签订委托书，我方接收样品；

3、进行细节沟通，我方进行试验测试；

4、试验测试完成，出具检测测试报告；

5、委托完成，我方提供售后服务。

检测仪器(部分)

合作客户(部分)

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