晶粒度评级:
1.铸态可伐合金棒材:侧重凝固枝晶臂间距测量及缩孔对晶粒均匀性影响校正。
2.冷轧薄板材料:检测变形晶粒长宽比及各向异性对晶粒度评级干扰。
3.热处理态坯料:关注均温处理再结晶完成度及异常晶粒长大控制。
4.电子封装焊接接头:熔合线附近热影响区晶粒粗化量化及残余应力相关性分析。
5.离子溅射基板:表面晶界显露度评级及膜基界面晶粒取向匹配性检测。
6.粉末冶金制品:孔隙干扰校正模型应用及致密度对晶粒度测量影响。
7.微型电子组件:局部应力集中区晶粒变形显微分析及疲劳寿命关联。
8.高温服役部件:热暴露后晶粒稳定性检测及晶界扩散现象观测。
9.定制合金板材:镍钴比例变异对晶界迁移率影响的定量分析。
10.回收再利用材料:杂质元素偏析导致的晶界脆化敏感性评级。
11.镀层基体材料:预处理表面晶界拓扑对结合强度的影响研究。
12.单晶生长基底:多晶杂质含量检测及晶界密度控制阈值评估。
13.挤压成型管材:流线组织晶粒取向及边界连续性重点分析。
14.真空熔炼锭材:纯净度对晶界氧化层厚度的控制检测。
15.复合材料界面:异质层晶粒匹配度及热膨胀系数协调性评估。
国际标准:
1.倒置金相显微镜:OLYMPUSGX73型(分辨率0.25μm,放大倍率50-1000×)
2.自动图像分析系统:ClemexVisionPro(晶粒度分析精度±0.3级)
3.维氏硬度计:WilsonVH1150(载荷范围10gf-50kgf,精度±1%)
4.精密切割机:BuehlerIsoMet5000(切割精度±0.01mm)
5.镶嵌机:StruersCitoPress-10(压力范围10-300kN)
6.研磨抛光机:BuehlerPhoenixBeta(转速范围5-600rpm)
7.蚀刻装置:定制恒温蚀刻槽(温度控制精度±0.5°C)
8.扫描电子显微镜:JEOLJSM-7900F(分辨率1.0nm,加速电压0.5-30kV)
9.能谱分析仪:OxfordX-Max80(元素检测范围B-U,精度±0.1wt%)
10.热处理炉:NaberthermP330(温度范围RT-1300°C,控制精度±1°C)
11.环境模拟箱:BinderKBF720(温湿度范围-10~100°C/10-98%RH)
12.激光共焦显微镜:KeyenceVK-X1000(Z轴分辨率0.01μm)
13.X射线衍射仪:BrukerD8ADVANCE(角度精度±0.0001°)
14.拉伸试验机:Instron5967(载荷范围0.02-100kN)
15.真空镶嵌系统:StruersVacuumet(真空度10^-3mbar)
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
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注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。
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