1.结到外壳热阻测试:热阻值θjc≤0.3°C/W,测量精度±0.02°C/W,测试条件功率密度5W/cm²
2.环境热阻评估:热阻值θja≤15°C/W,允许偏差±1°C/W,基于自然对流条件
3.导热系数测定:封装材料导热系数λ≥40W/(m·K),各向异性比≤1.2,温度范围25-150°C
4.热膨胀系数检测:CTE值5-10ppm/°C,匹配硅芯片系数,测量误差±0.5ppm/°C
5.热循环耐久性测试:温度循环-55°Cto150°C,循环次数≥2000次,失效标准电阻变化±10%
6.热界面材料性能分析:热阻抗≤0.01°C·cm²/W,厚度公差±10μm,压力载荷0.1-1MPa
7.散热器效率验证:散热能力≥10W/°C,风阻≤0.05Pa·s/m,风速范围0.5-5m/s
8.温度分布映射:热点温度偏差±2°C,空间分辨率0.1mm,红外扫描速率30fps
9.热失效温度测试:最高工作温度175°C,热降额曲线斜率≥-0.5%/°C,持续时间1000小时
10.热阻抗频谱分析:频率范围1Hz-1MHz,相位角精度±0.1°,阻抗模量误差±3%
11.热导率各向异性评估:平面与垂直方向导热比≤1.5,测量误差±3%,样品尺寸10x10mm
12.热循环疲劳寿命预测:基于Coffin-Manson模型,Nf≥5000cycles,应变幅度0.1%
13.热瞬态响应测试:响应时间≤1ms,温度精度±0.5°C,加热功率可调范围1-100W
14.比热容测量:比热容值0.5-1.5J/(g·K),测试温度-40°Cto200°C,精度±2%
15.热扩散系数测定:扩散系数≥10mm²/s,激光闪射法测量,误差±5%
1.陶瓷封装材料:氧化铝和氮化铝基封装,热导率≥20W/(m·K),用于高功率半导体器件
2.塑料封装组件:环氧模塑化合物封装,CTE10-20ppm/°C,适用于消费电子集成电路
3.金属封装结构:铜和铝合金封装,散热能力≥15W/°C,用于功率模块和射频器件
4.硅基中介层封装:硅interposer封装,热膨胀匹配硅芯片,用于2.5D/3D集成技术
5.复合封装材料:金属-陶瓷混合封装,热阻θjc≤0.5°C/W,用于航空航天电子
6.柔性封装产品:聚酰亚胺基柔性封装,弯曲循环≥1000次,用于可穿戴设备
7.高密度互连封装:细间距BGA和CSP封装,焊点热循环寿命≥3000次,用于移动处理器
8.功率电子模块:IGBT和MOSFET功率封装,最高结温175°C,热界面材料厚度≤50μm
9.光电子器件封装:LED和激光二极管封装,热沉效率≥8W/°C,用于照明和通信
10.微机电系统封装:MEMS传感器封装,热稳定性±0.1°C,用于汽车和医疗设备
11.射频微波封装:低温共烧陶瓷封装,介电常数≤10,热循环范围-65°Cto150°C
12.先进封装技术:扇出型晶圆级封装,线宽/线距≤10μm,热性能验证至200°C
13.热界面材料单独测试:导热膏、相变材料、石墨片,热阻抗≤0.05°C·cm²/W
14.散热器组件:铝和铜散热器,表面积≥100cm²,风冷和液冷兼容设计
15.封装基板和衬底:有机和陶瓷基板,热导率1-50W/(m·K),用于多种微电子应用
国际标准:
ASTMD5470-17JianCeTestMethodforThermalTransmissionPropertiesofThermallyConductiveElectricalInsulationMaterials
ISO22007-2:2015Plastics—Determinationofthermalconductivityandthermaldiffusivity—Part2:Transientplaneheatsource(hotdisc)method
JEDECJESD51-1IntegratedCircuitThermalMeasurementMethod—ElectricalTestMethod(ETM)
JEDECJESD51-14TransientDualInterfaceTestMethodfortheMeasurementoftheThermalResistanceJunctiontoCaseofSemiconductorDevices
IEC60749-25:2021Semiconductordevices—Mechanicalandclimatictestmethods—Part25:Temperaturecycling
ASTME1461-13JianCeTestMethodforThermalDiffusivitybytheFlashMethod
ISO11357-1:2016Plastics—Differentialscanningcalorimetry(DSC)—Part1:Generalprinciples
ASTME1269-11JianCeTestMethodforDeterminingSpecificHeatCapacitybyDifferentialScanningCalorimetry
ISO8310:2020Refrigeratedhydrocarbonfluids—Staticmeasurement—Calculationprocedureforthedeterminationofheightsofvolumesattemperaturesotherthanthoseatwhichtheliquidwasmeasured
JESD22-A104FTemperatureCycling
IPC-TM-6502.4.24.2ThermalPerformanceTestforPrintedBoards
国家标准:
GB/T10297-2021非金属固体材料导热系数测定方法
GB/T2423.22-2012环境试验第2部分:试验方法试验N:温度变化
GB/T17215.321-2021电能计量设备第321部分:热性能要求
GB/T17737.1-2013同轴通信电缆第1部分:总规范总则、定义和要求
GB/T20234-2021电子元器件热管理技术规范
GB/T5591.2-2021电子设备用散热器第2部分:测试方法
GB/T15077-2021微电子器件热性能测试方法
GB/T2611-2021试验机通用技术要求
GB/T19443-2021电子封装材料热膨胀系数测试方法
GB/T10592-2021高低温试验箱技术条件
1.热阻测试系统:型号TRS-1000,测量范围0.01-100°C/W,精度±0.01°C/W,支持双界面法
2.激光闪射导热仪:型号LFA-500,导热率测量范围0.1-2000W/(m·K),温度范围-100°Cto500°C
3.热循环试验箱:型号TCT-200,温度范围-70°Cto200°C,变温速率≥10°C/min,容量100L
4.红外热像仪:型号IRT-300,分辨率640x480像素,温度范围-20°Cto1500°C,精度±1°C
5.差示扫描量热仪:型号DSC-400,温度范围-150°Cto600°C,灵敏度0.1μW,用于比热容测定
6.热界面材料测试仪:型号TIM-200,压力范围0-100psi,热阻抗测量精度±5%,样品直径25mm
7.散热器风洞测试系统:型号WTS-500,风速控制0-10m/s,流量精度±2%,热功率输入0-500W
8.热机械分析仪:型号TMA-600,位移分辨率0.1μm,温度范围-150°Cto1000°C,用于CTE测量
9.热失效分析系统:型号TFA-700,最高温度300°C,电压/电流监控,失效判定基于参数漂移
10.热瞬态测试仪:型号TTT-800,时间分辨率1μs,温度采样率1MHz,用于动态热响应分析
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
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注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。
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