Seebeck系数(α):测量范围±3000 μV/K,精度±1.5%
电导率(σ):10-3-105 S/m,四探针法测定
热导率(κ):0.1-100 W/m·K,激光闪射法测量
功率因子(PF=α²σ):10-6-103 μW/cm·K²
ZT值(热电优值):0.01-3.0,综合评估材料性能
半导体材料:碲化铋(Bi2Te3)、硅锗合金(SiGe)
金属间化合物:方钴矿(Skutterudites)、Half-Heusler合金
薄膜材料:氧化锌(ZnO)薄膜、有机热电薄膜
纳米复合材料:石墨烯基复合材料、纳米线阵列
工业成品:热电发电模块(TEG)、温差发电器件
稳态法(ASTM E1225):通过恒温热流测定热导率,适用于块体材料
瞬态平面热源法(ISO 22007-2):快速测量热扩散系数与比热容
Harmonic法(ASTM F533):高频交流电技术测量Seebeck系数
Van der Pauw法(ISO 17410):非接触式电导率测试,精度达±0.5%
复合参数联测法:同步获取α、σ、κ的ZEM系列设备专属方案
塞贝克系数测试仪:ULVAC ZEM-3,温度范围80-1200K,支持真空环境
热导率测试系统:NETZSCH LFA 467 HyperFlash,激光闪射法,精度±3%
四探针电阻仪:Keithley 2450 SourceMeter,分辨率0.1nV,电流范围±1A
综合物性测量系统:Quantum Design PPMS,集成电/热输运参数测量
高温热电测试台:Linseis TF-1200,支持室温至800℃动态测试
/CMA双认证实验室:检测报告获国际互认,符合ISO/IEC 17025标准
多参数同步检测能力:实现α-σ-κ三参数同一样品同条件测量
宽域温控技术:液氮低温系统(77K)与红外高温炉(1500K)全覆盖
微区测试解决方案:配备微探针台(Cascade Summit 12000)实现μm级样品测试
数据溯源体系:所有设备均通过NIST可溯源校准,不确定度分析符合JJF 1059规范
以上是关于热电系数检测相关介绍,如果您还有其他疑问,可以咨询在线工程师提交您的需求,为您提供一对一解答。
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。
1、拥有完善的检测服务体系,科学、严谨、认证。
2、我院对已出过的报告负责。
3、提供编写MSDS报告、TDS报告服务。
4、检测服务领域广,可参考标准多(国标、企标、通标、工标、国际标准等)。
5、周期短,费用低,方案全。
6、支持定制化试验方案,数据更加科学准确。
7、全国上门取样/现场见证试验。
8、资质全,团队强,后期服务体系完善
1、工业问题诊断:包括失效分析、科学诊断、数据验证等,可以快速检测出产品问题,尽快止损;
2、其他鉴定服务:协助相关部门证据链补充、证物材料补充、质量检测、样品分析;
4、研发使用:试验经验丰富,试验设备多,为科研工作提供数据支持;
3、高校论文:提供研究性实验数据、分析服务,给论文提供科学依据;
5、投标:检测周期短,准确性高,出具的第三方检测报告合法合规;
7、控制材料质量,进行产品内控,降低成本、风险。
1、与工程师沟通,确定具体的试验方案,我方报价;
2、双方签订委托书,我方接收样品;
3、进行细节沟通,我方进行试验测试;
4、试验测试完成,出具检测测试报告;
5、委托完成,我方提供售后服务。