1.纯度分析:总锗含量≥99.9%,杂质元素(Fe、Cu、Ni)≤50ppm
2.结构鉴定:XRD晶体结构匹配度(JCPDS卡片偏差<0.02)
3.热稳定性测试:TGA法测定分解温度(200-500℃区间失重率≤5%)
4.表面形貌表征:SEM成像分辨率≤5nm,EDS元素分布均匀性偏差<3%
5.氧化态验证:XPS结合能分析(Ge3d轨道峰位偏移0.2eV)
1.半导体前驱体材料:GeO薄膜、GeS纳米颗粒
2.有机金属催化剂:二茂锗衍生物、烷基锗配合物
3.医药中间体:含锗抗肿瘤化合物
4.光学镀膜材料:GeSe₂红外窗口材料
5.储能材料:锗基锂离子电池负极材料
1.ASTME1479-16电感耦合等离子体发射光谱法(ICP-OES)
2.ISO17075:2017X射线光电子能谱表面分析
3.GB/T4325.1-2013锗化学分析方法(容量法测定锗量)
4.ISO20565-3:2008波长色散X射线荧光光谱法
5.GB/T17473.7-2008电子材料痕量杂质原子吸收光谱法
1.RigakuSmartLabX射线衍射仪:θ/θ测角仪,CuKα辐射源(λ=1.5406)
2.ThermoScientificiCAPRQICP-MS:质量范围2-290amu,检出限≤0.1ppt
3.NetzschSTA449F5同步热分析仪:TG-DSC联用系统(-150℃~1600℃)
4.BrukerD8ADVANCEXRD系统:LynxEye阵列探测器(192通道)
5.Agilent7900ICP-MS:四级杆碰撞反应池技术(He/H₂模式)
6.ShimadzuUV-3600Plus分光光度计:双单色器设计(185-3300nm)
7.PerkinElmerSTA8000热重分析仪:微克级称量精度(0.1μg)
8.JEOLJSM-7900F场发射扫描电镜:低真空模式(10Pa~270Pa)
9.MalvernZetasizerNanoZSP动态光散射仪:粒径测量范围0.3nm-10μm
10.ThermoFisherESCALABXi+XPS系统:单色化AlKα源(1486.6eV)
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是关于二价锗化合物检测相关介绍,如果您还有其他疑问,可以咨询在线工程师提交您的需求,为您提供一对一解答。
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。
1、拥有完善的检测服务体系,科学、严谨、认证。
2、我院对已出过的报告负责。
3、提供编写MSDS报告、TDS报告服务。
4、检测服务领域广,可参考标准多(国标、企标、通标、工标、国际标准等)。
5、周期短,费用低,方案全。
6、支持定制化试验方案,数据更加科学准确。
7、全国上门取样/现场见证试验。
8、资质全,团队强,后期服务体系完善
1、工业问题诊断:包括失效分析、科学诊断、数据验证等,可以快速检测出产品问题,尽快止损;
2、其他鉴定服务:协助相关部门证据链补充、证物材料补充、质量检测、样品分析;
4、研发使用:试验经验丰富,试验设备多,为科研工作提供数据支持;
3、高校论文:提供研究性实验数据、分析服务,给论文提供科学依据;
5、投标:检测周期短,准确性高,出具的第三方检测报告合法合规;
7、控制材料质量,进行产品内控,降低成本、风险。
1、与工程师沟通,确定具体的试验方案,我方报价;
2、双方签订委托书,我方接收样品;
3、进行细节沟通,我方进行试验测试;
4、试验测试完成,出具检测测试报告;
5、委托完成,我方提供售后服务。