飞行时间谱学检测

关键字:飞行时间谱学项目报价,飞行时间谱学测试标准,飞行时间谱学测试机构
所在栏目:其他检测
发布时间:2025-05-26
信息来源:北检院
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检测项目

1.质量分辨率:测量范围为1-10000Da,分辨率≥15000(m/Δm)
2.质量精度:误差范围0.002Da(内标校正后)
3.检出限:元素级≤1ppm,分子级≤10pg/cm
4.动态范围:信号强度线性响应范围≥10⁶
5.深度分辨率:纵向分析精度≤1nm(溅射速率0.1-5nm/s)

检测范围

1.半导体材料:硅基晶圆(300mm)、GaN外延片、光刻胶残留物
2.金属合金:钛铝基高温合金表面氧化层、铜互连结构杂质分布
3.高分子聚合物:PMMA薄膜降解产物、PET表面改性层成分
4.生物样品:细胞膜磷脂分布、药物载体涂层均匀性
5.纳米材料:量子点表面配体覆盖率、石墨烯掺杂浓度梯度

检测方法

ASTME1504-11(2021):二次离子质谱定量分析规程
ISO18118:2022表面化学分析-飞行时间二次离子质谱校准方法
GB/T40111-2021表面化学分析-飞行时间二次离子质谱通则
ISO21363:2020纳米技术-纳米物体尺寸分布的TOF-SIMS测定
GB/T35099-2018微束分析-飞行时间二次离子质谱术语

检测设备

1.TOFWERKV系列:配备30kVBi₃⁺液态金属离子枪,质量分辨率>20000
2.IONTOFTOF.SIMS5:双束溅射系统(Ar团簇+Cs⁺),深度剖析模式
3.PHInanoTOFII:集成AFM联用模块,实现3D纳米级成分成像
4.Ulvac-PhiTRIFTV:三重聚焦飞行管设计,质量精度0.0005Da
5.BrukermaXisII:ESI源兼容型TOF-MS,生物大分子分析专用
6.HidenSIMSWorkstation:配备RF等离子体源,支持绝缘样品分析
7.CamecaNanoSIMS50L:多接收器系统,同位素比测量精度0.1‰
8.ShimadzuTOF-SIMSAC:高温样品台(最高800℃),催化材料原位分析
9.SPECSTOF.Phoenix:脉冲电子补偿装置,降低表面荷电效应
10.KoreTechnologyFASTRAK:紧凑型台式系统,快速筛查模式(<3min/样)

北检(北京)检测技术研究院【简称:北检院】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

以上是关于飞行时间谱学检测相关介绍,如果您还有其他疑问,可以咨询在线工程师提交您的需求,为您提供一对一解答。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

服务优势

1、拥有完善的检测服务体系,科学、严谨、认证。

2、我院对已出过的报告负责。

3、提供编写MSDS报告、TDS报告服务。

4、检测服务领域广,可参考标准多(国标、企标、通标、工标、国际标准等)。

5、周期短,费用低,方案全。

6、支持定制化试验方案,数据更加科学准确。

7、全国上门取样/现场见证试验。

8、资质全,团队强,后期服务体系完善

报告作用

1、工业问题诊断:包括失效分析、科学诊断、数据验证等,可以快速检测出产品问题,尽快止损;

2、其他鉴定服务:协助相关部门证据链补充、证物材料补充、质量检测、样品分析;

4、研发使用:试验经验丰富,试验设备多,为科研工作提供数据支持;

3、高校论文:提供研究性实验数据、分析服务,给论文提供科学依据;

5、投标:检测周期短,准确性高,出具的第三方检测报告合法合规;

7、控制材料质量,进行产品内控,降低成本、风险。

试验流程

1、与工程师沟通,确定具体的试验方案,我方报价;

2、双方签订委托书,我方接收样品;

3、进行细节沟通,我方进行试验测试;

4、试验测试完成,出具检测测试报告;

5、委托完成,我方提供售后服务。

检测流程

检测仪器(部分)

实验仪器

实验仪器-手机

合作客户(部分)

合作客户

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